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RFID芯片结构对标签灵敏度影响分析

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2.1 各种因素分组及测试设备和测试环境

2.2 测试结果

2.2.2 产品制程能力分析

参考图表如下:

图3未敷膜芯片某种组合Cpk=0.63 [2]图4未敷膜芯片某种组合Cpk=0.44[2]

图5敷膜芯片某种组合Cpk=1.42 [2] 图6敷膜芯片某种组合Cpk=1.10[2]

制程能力判断标准:

Cpk值

级别

判断结论

Cpk≥1.67

特级

制程能力过分充裕

1.67>Cpk≥1.33

A

制程能力充分

1.33>Cpk≥1.00

B

制程能力合格,但不太充分

1.00>Cpk≥0.67

C

制程能力不足,需要提升能力

Cpk

D

制程能力严重不足,不可接受